産品資料

電(diàn)腦測(cè)控紙闆戳穿強度試驗儀

産品名稱: 電(diàn)腦測(cè)控紙闆戳穿強度試驗儀
産品型号:
産品展商: 博萊德

簡(jiǎn)單(dān)介紹

電(diàn)腦測(cè)控紙闆戳穿強度試驗儀是指以特定形狀的角錐穿過紙闆所需的功，此功包括開始穿刺、紙闆撕裂並彎折成孔所需的功的總和，以J表示。戳穿強度可以反映瓦楞紙闆承受銳利物沖撞時的抵抗能力，它是一項重要的動強度性能指标。

詳細(xì)介紹(shào)
電(diàn)腦測(cè)控紙闆戳穿強度試驗儀測量範圍及示值誤差

　　儀器測量範圍爲(1～48)J，整個測量範圍分四檔，各檔測量範圍及示值誤差見下表
    A檔: 測量範圍:（1～6）J       示值誤差±0.05J
    B檔: 測量範圍:（1～12）J     示值誤差±0.10J
    C檔: 測量範圍:（1～24）J     示值誤差±0.20J
    D檔:測量範圍:（1～48）J     示值誤差 ±0.50J
 

注 ：示值誤差隻在各檔測量上限值的20％～80％範圍内保證。
摩擦套阻力＜0.25J
角錐體特性尺寸:三底邊長60mm×60mm×60mm，高（25±0.7）mm，棱邊圓角半徑R（1.5±0.1）mm

儀器正常工作的環境條

  • 室溫：20℃±10℃；
  • 電源：AC 220V±22V，50Hz，5A，電源應可靠接地；如電源電壓波動超出上述範圍，則應使用電源穩壓器。
  • 工作環境：清潔少塵、無強磁場、強震動源；
  • 工作台：採用堅固的水泥工作台，台面應大緻水平。
戳穿試驗時，角錐戳穿頭穿透試樣的過程由三個連續動作組成，即刺穿、撕裂和彎折。戳穿紙闆的整個過程實際上是對紙闆及其組成原料質量性能的綜合性檢驗。試驗驗證表明，瓦楞紙闆面積的縱橫兩個方面的撕裂度及瓦楞原紙的實驗室平壓強度（CMT）對戳穿強度有重要影響。

合作夥伴
我公司合作夥們有: 東莞市優越檢測(cè)技術服務有限公司,蒙牛乳業集團有限公司, 内蒙古自治區産(chǎn)品質量檢驗研究院, 北京中國建築材料科學研究總院,福建省質量監督所,北京佳準鍾表眼鏡檢測(cè)有限公司,廣東喜之朗集團有限公司,重慶計量質量研究院,嘉興質量監督所等等.
 
 
售後服務承諾
一、本試驗機自出廠(chǎng)日期起免費(fèi)服務期限爲24個月
二、免費爲客戶安裝、調試産(chǎn)品,根據客戶要求，進行有關使用等方面的技術指導(dǎo) 
三、終生服務。
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